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共面性測(cè)試儀在IC芯片引腳缺陷檢測(cè)應(yīng)用

更新時(shí)間:2025-02-24點(diǎn)擊次數(shù):248

在芯片制造過(guò)程中,芯片引腳扮演著連接內(nèi)部電路與外部電路的重要角色,相當(dāng)于芯片的接口。然而在芯片制造過(guò)程中,如果引腳出現(xiàn)缺失、破損、偏斜或不平整,容易導(dǎo)致后續(xù)貼片焊接時(shí)出現(xiàn)虛焊、虛接或漏接的問(wèn)題,進(jìn)而影響芯片的可靠性。

芯片引腳缺陷檢測(cè)通常涉及測(cè)量和評(píng)估多個(gè)指標(biāo),如檢測(cè)引腳外觀、測(cè)量引腳寬度、高度差等,通過(guò)綜合評(píng)估這些參數(shù),能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)潛在的問(wèn)題并提供預(yù)警,以確保芯片制造的質(zhì)量和可靠性。

結(jié)合了金相顯微鏡的高倍觀察能力,和影像測(cè)量?jī)x的X、Y、Z軸表面尺寸測(cè)量功能,采用0.1μm高精度3軸測(cè)量系統(tǒng),可精確監(jiān)控引腳之間的間距、高度、長(zhǎng)度等,驗(yàn)證抽檢樣品是否符合設(shè)計(jì)要求。

引腳外觀和形狀

檢查引腳的外觀,確保沒(méi)有損壞、變形或其他表面缺陷,這些問(wèn)題可能會(huì)影響引腳的功能性和可靠性。

引腳位置和對(duì)齊

測(cè)量引腳位置和對(duì)齊,評(píng)估引腳之間的間距和間隙,確保它們符合設(shè)計(jì)規(guī)范,不正確的位置或?qū)R可能導(dǎo)致連接不良或損壞。

焊點(diǎn)完整性

評(píng)估焊點(diǎn)的完整性,包括焊料的均勻性、潤(rùn)濕性和穩(wěn)定性。良好的焊點(diǎn)確保引腳與主板或其他元件之間可靠連接。



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